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SiT8503：SiTime推出可編程全硅MEMS振蕩器提供穩(wěn)定的時脈
全硅MEMS時脈方案領導公司SiTime Corporation今天針對音響，微控制器和工控醫(yī)療等高可靠性應用領先推出業(yè)界第一款編號為SiT8503 的千赫(kHz)可編程全硅MEMS振蕩器。SiT8503使這個產品組合新增千赫系列時脈方案，并進一步提升了SiTime提供one-stop-shop全硅時脈方案的能力。
2010-09-24
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SEMI：半導體材料市場反彈至創(chuàng)新的記錄
根據(jù)SEMI于SEMICON West上最新的數(shù)據(jù)報道，由于IC出貨量的持續(xù)增加，2010年總的半導體前道材料(fab Materials)將由09年的178.5億美元(與08年相比下降26，2%)提高到217.1億美元，但仍未超過2008年241.9億美元水平，預期2011年的增速將會減緩。
2010-09-20
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2014年電子書閱讀器銷量將達3500萬部
In-Stat高級分析師斯蒂芬妮·埃蒂爾(StephanieEthier)稱，盡管平板電腦出貨量迅速攀升，但電子書閱讀器同樣潛力巨大。畢竟，兩款產品針對不同的客戶群。
2010-09-17
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可伸縮的燃料電池測試系統(tǒng)
太空旅行是最早采用燃料電池技術的產業(yè)。從那時開始，燃料電池技術有了長足的進步，其應用如今已遍及從筆記本電腦和MP3播放器到混合動力汽車甚至建筑物等各個領域。隨著燃料電池的應用不斷增多，設計工程師不但需要了解這種技術的原理，還應熟悉燃料電池堆(cellstack)的可靠性與功能性測試。本文主要介紹構建燃料電池測試系統(tǒng)的兩個主要標準：可伸縮性和隔離。
2010-09-15
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憶阻器技術準備邁向商業(yè)化
惠普(HP)近日宣布與韓國業(yè)者海力士(Hynix)簽署合作研發(fā)協(xié)議，旨在將憶阻器(memristor)技術商業(yè)化；這兩家公司將共同開發(fā)新的材料與制程整合技術，好將HP的憶阻器技術由研發(fā)階段，推向以電阻式隨機存取內存(resistive random access memory，ReRAM)形式呈現(xiàn)的商業(yè)化開發(fā)階段。
2010-09-08
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2010年中國（成都）電子展開幕
9月7日，2010年中國（成都）電子展（CEF West)在成都世紀城新國際會展中心開幕，這是中國電子展系列展覽連續(xù)第二年登陸四川成都。400余家來自國內外的高新電子元器件、電子材料、制造設備、測試/測量設備等方面的高新企業(yè)前來參展，參觀者更是踴躍如潮。
2010-09-08
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全新AFG-3000系列任意波形信號發(fā)生器
固緯電子實業(yè)股份有限公司近日推出全新的任意波形信號發(fā)生器AFG-3000系列。該系列是GW Instek新一代的任意波信號源，它將先進信號發(fā)生器的技術引入了大眾化的領域。
2010-09-03
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2010年中國（成都）電子展將于9月舉行
2010年9月7日—9日，中國電子展（CEF）系列展覽之一的“中國（成都）電子展”（CEF West China 2010）將在成都世紀城新國際會展中心舉行。作為中國第一大電子展，中國電子展是國內外電子廠商把握行業(yè)趨勢脈搏、貼近中國市場的完美契機。
2010-08-30
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借力CEF 2010成都站，國益劍指西部布局
作為全球第一大芯片電阻器(R-chip)制造商、全球第三大積層陶瓷電容(MLCC)供應商，以及全球第二大磁性材料（Ferrites）供應商的國巨，更是抓住機遇，借力2010年中國（成都）電子展（CEF West China 2010），積極布局西部。
2010-08-30
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支持Wi-Fi的消費電子終端市場2014年超過2500億美元
Strategy Analytics互聯(lián)家庭終端研究服務發(fā)布最新研究報告“嵌入式WLAN(Wi-Fi)消費電子終端：全球市場預測”。分析指出，到2014年全球市場支持Wi-Fi功能的消費電子終端市場存量將超過26億部，而同年市場零售額規(guī)模將超過2,500億美元。
2010-08-27
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R&S射頻診斷暗室為實驗室工作臺提供自由空間的測試環(huán)境
緊湊型的射頻診斷暗室R＆S DST200，讓移動電話等無線設備的研發(fā)人員能在工作臺上實現(xiàn)射頻輻射測量。此臺式暗室模擬能近似自由空間的測試條件，并配有專為此暗室設計的700 MHz到6 GHz的寬帶天線。用戶可以測量自我干擾（減敏）或輻射發(fā)射，執(zhí)行共存測試以及在研發(fā)過程中驗證天線的輻射方向圖。因此，設計者們無需再為等待大型EMC試驗室而浪費大量寶貴的時間。
2010-08-26
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集成芯片的可測性設計技術
本文主要介紹了可測性設計的重要性及目前所采用的一些設計方法，包括：掃描設計(scanDesign)、邊界掃描設計(BoundaryScanDesign)和內建自測試設計(BIST)。這些設計方法各有其優(yōu)缺點，在實際設計時常常根據(jù)測試對象的不同，選擇不同的可測性設計方法，以利用其優(yōu)點，彌補其不足。
2010-08-26
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