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北美半導(dǎo)體7月出貨量增 接單量降
近期SEMI公布最新北美半導(dǎo)體設(shè)備訂單出貨報告:2011年7月北美半導(dǎo)體設(shè)備制造商的3個月平均訂單金額為13億元,B/B值(訂單出貨比)為0.86,代表半導(dǎo)體設(shè)備業(yè)者三個月平均出貨100美元,只接獲86美元的訂單。而相比去年出貨量,7月半導(dǎo)體設(shè)備出貨量增加了。
2011-08-23
半導(dǎo)體設(shè)備 半導(dǎo)體
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力科發(fā)布世界首臺12位ADC的示波器
力科公司正式發(fā)布全球第一臺12位ADC的示波器,WaveRunnerHRO6Zi系列。WaveRunnerHRO(HighResolutionOscilloscope)除了具有工業(yè)上最領(lǐng)先的12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),長存儲256Mpts/ch和卓越的DC精度指標(biāo)外,還具有WaveRunner6Zi系列本身具有的強(qiáng)大的分析能力。工程師將不必再為小信號的測量精度問題而苦...
2011-08-23
力科 示波器 WaveRunnerHRO6Zi
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FCI:謀求連接器市場變局中的高速發(fā)展
數(shù)據(jù)顯示,連接器市場正處在一個健康的增長周期之中,而通常來講,與市場增長相伴生的一定是競爭的加劇。在這一波增長中“跑贏大盤”,就成為連接器廠商贏得競爭的關(guān)鍵。FCI亞太地區(qū)總經(jīng)理、全球銷售及市場副總裁Doug Choo在接受電子元件技術(shù)網(wǎng)采訪時充滿了信心。新興應(yīng)用市場的拉動和FCI技術(shù)上的優(yōu)勢...
2011-08-22
FCI 連接器 Doug Choo
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深入探討各種PCB設(shè)計疏忽及應(yīng)對策略
本文羅列了各種不同的設(shè)計疏忽,探討了每種失誤導(dǎo)致電路故障的原因,其中大多數(shù)問題源于少數(shù)幾個常見原因,我們將對此逐一討論,并給出如何避免這些設(shè)計缺陷的建議。本文以FR-4電介質(zhì)、厚度0.0625in的雙層PCB為例,電路板底層接地。工作頻率介于315MHz到915MHz之間的不同頻段,Tx和Rx功率介于-120dB...
2011-08-22
PCB設(shè)計 PCB 印制電路板
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基于PCB的電磁兼容的設(shè)計
PCB電磁兼容設(shè)計在于減少對外電磁輻射和提高抗電磁干擾的能力,合理的布局和布線是設(shè)計的關(guān)鍵所在。本文介紹PCB中常見的電磁干擾及PCB的電磁兼容設(shè)計,這些方法與技巧有利于提高高速PCB的EMC特性。解決PCB設(shè)計中的問題如傳導(dǎo)干擾、串音干擾以及輻射干擾。
2011-08-22
PCB 電磁兼容 電磁干擾 靜電防護(hù) EMC EMI
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電子負(fù)載及其在檢測設(shè)備測試中的應(yīng)用
隨著電子市場的發(fā)展,其前景是毋庸置疑的,而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設(shè)備也得以廣泛應(yīng)用。就在LED驅(qū)動、電源模塊測試、充電器生產(chǎn)及UPS生產(chǎn)等領(lǐng)域廣泛使用的直流電子負(fù)載而言,其已經(jīng)成為了這些領(lǐng)域必不可少的測試設(shè)備。
2011-08-16
電子負(fù)載 檢測設(shè)備 測試 電壓
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VJ系列:Vishay推出無磁性電容器用于MRI(磁力共振影像)設(shè)備
近日,Vishay Intertechnology, Inc.宣布,推出用于MRI(磁力共振影像)設(shè)備的新系列無磁性表面貼裝多層陶瓷片式電容器(MLCC)--- VJ。VJ系列無磁性電容器采用C0G(NPO)和X7R/X5R電介質(zhì),提供多種外形尺寸、額定電壓和電容值器件。
2011-08-15
VJ系列 Vishay 無磁性電容器 MRI 磁力共振影像
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雷電防護(hù)中浪涌保護(hù)器的應(yīng)用
在雷電防護(hù)中通常用浪涌保護(hù)器(SPD)來抑制瞬態(tài)過電壓(電流)。本文討論浪涌保護(hù)器(SPD)應(yīng)用中的SPD有關(guān)參數(shù)的選擇、SPD的安裝、SPD的協(xié)調(diào)配合、SPD的自保護(hù)和后保護(hù)、SPD的安裝時的引線問題。
2011-08-15
雷電防護(hù) 浪涌保護(hù)器 防雷 SPD
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AEM科技喜獲UL目擊實驗室資質(zhì)
AEM科技(蘇州)股份有限公司于北京時間7月28日取得UL目擊實驗室資質(zhì)。這是中國大陸境內(nèi)第一家限流熔斷器生產(chǎn)商獲得本項資質(zhì),將使AEM熔斷器新產(chǎn)品的UL認(rèn)證周期大大縮短,為加快研發(fā)成果商品化及高效服務(wù)客戶提供了便利。
2011-08-11
AEM UL 實驗室
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