
可定性測試電容器漏電的實用電路設(shè)計
發(fā)布時間:2014-10-22 責(zé)任編輯:sherryyu
【導(dǎo)讀】電解電容器時間用長后就會出現(xiàn)漏電現(xiàn)象,但是我們很多時候不知道還能不能繼續(xù)使用,所以需要測量電容的漏電現(xiàn)象。這里分享一個技術(shù)行業(yè)通用的可定性測試電容器漏電的實用電路設(shè)計,幫大家來判斷電容還能不能使用。
電解電容器時間用長后就會出現(xiàn)漏電現(xiàn)象,附圖所示的電路能讓你測試電容器的漏電,并且決定它們是否值得使用,你可以通過CREF/RREF的比值抑制泄漏。

附圖中的比值適用于從1納法的陶瓷電容器到1000微法的電解電容器等所有電容器的通用測試。電路中CREF的數(shù)值與待測電容器CX的數(shù)值相近,你也可以通過一個旋轉(zhuǎn)開關(guān)選擇RREF,使其大于或小于22MΩ。
工作原理
當(dāng)按鈕開關(guān)合上時,電容器CREF和CX通過它們各自的PNP晶體管進(jìn)行充電。當(dāng)該開關(guān)斷開時,電容器CREF和CX開始放電。假定CREF處在良好狀態(tài),它具有一個附加的放電外接電阻RREF,待測電容器CX通過其內(nèi)部電阻放電。
如果CX的放電比CREF通過RREF的放電快,此時其電壓將下降較快,這樣,運(yùn)算放大器的同向端輸入電壓將比其反向端輸入電壓低,迫使運(yùn)算放大器的輸出變低,從而點(diǎn)亮紅色發(fā)光二極管。該發(fā)光二極管指明待測電容器CX漏電,該測試電路表明甚至一個1納法的陶瓷電容器都適應(yīng)來比作參考,測試前請檢查待測電容器CX的標(biāo)稱電壓應(yīng)比其待充電電壓要高。
運(yùn)算放大器LF357具有10V的最小電源電壓,本測試電路只選取6V電壓是為了容許待測電容器CX一個低的上限電壓。
特別推薦
- 成本與性能的平衡:振蕩線圈技術(shù)深度解析與選型建議
- 十一月上海見!106屆中國電子展預(yù)登記開啟,共探產(chǎn)業(yè)新機(jī)遇
- 清潔電器智能化升級:MCU芯片性能成差異化競爭核心
- Cadence與NVIDIA強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合,數(shù)字孿生平臺新模型助推AI數(shù)據(jù)中心高效部署
- 偏轉(zhuǎn)線圈技術(shù)解析:從基礎(chǔ)原理到選型要則的全景指南
技術(shù)文章更多>>
- Spectrum推出多通道GHz數(shù)字化儀,最高支持12通道
- 安森美破解具身智能落地難題,全鏈路方案助推機(jī)器人產(chǎn)業(yè)化
- AMD 推出 EPYC? 嵌入式 4005 處理器,助力低時延邊緣應(yīng)用
- 機(jī)電執(zhí)行器需要智能集成驅(qū)動器解決方案以增強(qiáng)邊緣智能
- 廣東國際水處理技術(shù)與設(shè)備展覽會邀請函
技術(shù)白皮書下載更多>>
- 車規(guī)與基于V2X的車輛協(xié)同主動避撞技術(shù)展望
- 數(shù)字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰(zhàn)
- 汽車模塊拋負(fù)載的解決方案
- 車用連接器的安全創(chuàng)新應(yīng)用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索
LTC
LTE
LTE功放
LTE基帶
Marvell
Maxim
MCU
MediaTek
MEMS
MEMS傳感器
MEMS麥克風(fēng)
MEMS振蕩器
MHL
Micrel
Microchip
Micron
Mic連接器
Mi-Fi
MIPS
MLCC
MMC連接器
MOSFET
Mouser
Murata
NAND
NFC
NFC芯片
NOR
ntc熱敏電阻
OGS